EMC 設(shè)計(jì)與EMC 測(cè)試是相輔相成的。EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過EMC 測(cè)試來衡量的。只有在產(chǎn)品的EMC 設(shè)計(jì)和研制的全過程中，進(jìn)行EMC 的相容性預(yù)測(cè)和評(píng)估，才能及早發(fā)現(xiàn)可能存在的電磁干擾，并采取必要的抑制和防護(hù)措施，從而確保系統(tǒng)的EMC。否則，當(dāng)產(chǎn)品定型或系統(tǒng)建成后再發(fā)現(xiàn)不兼容的題，則需在人力、物力上花很大的代價(jià)去修改設(shè)計(jì)或采用補(bǔ)救的措施。然而，往往難以的解決問題，而給系統(tǒng)的使用帶來許多麻煩。

EMC 測(cè)試包括測(cè)試方法、測(cè)量?jī)x器和試驗(yàn)場(chǎng)所，測(cè)試方法以各類標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，測(cè)量?jī)x器以頻域?yàn)榛A(chǔ)，試驗(yàn)場(chǎng)地是進(jìn)行EMC 測(cè)試的先決條件，也是衡量EMC 工作水平的重要因素。EMC 檢測(cè)受場(chǎng)地的影響很大，尤其以電磁輻射發(fā)射、輻射接收與輻射敏感度的測(cè)試對(duì)場(chǎng)地的要求最為嚴(yán)格。目前，國內(nèi)外常用的試驗(yàn)場(chǎng)地有：開闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室和橫電磁波小室等。

作為EMC 測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室大體有兩種類型：一種是經(jīng)過EMC 機(jī)構(gòu)審定和質(zhì)量體系認(rèn)證，而且具有法定測(cè)試資格的綜合性設(shè)計(jì)與測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。或稱檢測(cè)中心。它包括進(jìn)行傳導(dǎo)干擾、傳導(dǎo)敏感度及靜電放電敏感度測(cè)試的屏蔽室，進(jìn)行輻射敏感度測(cè)試的消聲屏蔽室，用來進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試的開闊場(chǎng)地和配備齊全的測(cè)試與控制儀器設(shè)備。要建立這樣一套完善的實(shí)驗(yàn)室需投入幾百萬甚至數(shù)千萬元人民幣。目前，國內(nèi)已有數(shù)家已建成或正在投資興建。

另一種類型就是根據(jù)本單位的實(shí)際需要和經(jīng)費(fèi)情況而建立的具有一定測(cè)試功能的EMC實(shí)驗(yàn)室。比起大型的綜合實(shí)驗(yàn)室，這類測(cè)試實(shí)驗(yàn)室規(guī)模小，造價(jià)低。主要適用于預(yù)相容測(cè)試和EMC 評(píng)估。也就是為了使產(chǎn)品在最后進(jìn)行EMC 認(rèn)證之前，具有自測(cè)試和評(píng)估的手段。如有不足，還可以充分利用社會(huì)成果，內(nèi)外合作，進(jìn)行相互比對(duì)和交流，以達(dá)節(jié)約開支，改進(jìn)設(shè)計(jì)，不斷提高產(chǎn)品的EMC 之目的。

在測(cè)試儀器方面，以頻譜分析儀為核心的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，可以快捷、準(zhǔn)確地提供EMC 有關(guān)參數(shù)。新型的EMC 掃描儀與頻譜儀相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了電磁輻射的可視化。可對(duì)系統(tǒng)的單個(gè)元器件，PCB 板、整機(jī)與電纜等進(jìn)行三維測(cè)試，顯示真實(shí)的電磁輻射狀況。

EMC 測(cè)試必須依據(jù)EMC 標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范給出的測(cè)試方法進(jìn)行，并以標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值作為判據(jù)。對(duì)于預(yù)相容測(cè)試，盡管不可能保證產(chǎn)品通過所有項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，但至少可以消除絕大部分的電磁干擾，從而提高產(chǎn)品的可信度。而且能夠指出你如何改進(jìn)設(shè)計(jì)、抑制EMI 發(fā)射。